SIMPLEWELL高加速寿命测试试验箱产品介绍

高加速寿命测试

  通常是指温度为110℃&120℃&130℃时相对湿度为85%的非饱和蒸汽测试。通过加速测试来确认包括半导体在内的电子元件和材料是否由于耐久性（寿命）或环境变化而导致功能失效。

1. Simplewell系列HAST具体参数

2. 满足标准

GB-T2423.40-2013环境试验第2部分：试验方法试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热

IEC 60068-2-66:1994

国际标准：

3.温度指标

    温度范围：105℃～150℃标准范围

    温度精度：±0.01℃

    温度分布精度：±0.5℃在100RH%,±1.0℃在85RH%

4.湿度指标

     湿度范围：65％RH～100％RH.

     湿度精度：±0.1％RH

   温度分布精度：±1.0RH%在85RH%

5.温度，湿度压力范围如下图

6.循环风道结构

7.运行方式：试验类型饱和/不饱和，定值模式/程序模式

7.1输入方式：中/英文菜单，触控式人机对话方式；

7.2控制方式：温度，露点控制模式；

7.3程序：50组每周100段，程序组之间可相互链接（一组程序最多段数可大5000步）。 并且每组程序内可设定4组段循环以及32000总循环；

7.4结束方式：自然冷却或线性降温可选；

7.5结束后：恢复常压后保持一定温度或自动干燥（50～90℃），或排水后自动自然冷却。   

7.6具有带电池保护的SRAM，可保存设备的设定值、采样值及采样时刻的时间，可在屏上手指触摸实时滑动观察数据；

7.7试验数据采集

1．屏界面曲线输出：直接把触摸屏上曲线界面存成*.bmp图片存到U盘里

2．USB功能：配16G U盘1个

3．数据输出：保成*.csv数据文件（非曲线图），采样周期可以在屏上设置；可用Excel等电子表格软件打开处理

7.8故障提示记录功能：当检测到故障时，自动弹出对应故障画面与解决方案，并记录故障发生的日期以及故障，故障信息具有断电保存功能。

Simplewell昇微—模拟环境、可靠性以及VOC等实验设备专业供应商。